ED300測(cè)厚儀應(yīng)用范圍
ED300型渦流測(cè)厚儀，用于檢測(cè)各種非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。例如：鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽極氧化層或涂層。儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速無損的膜厚檢查。可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
ED300測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格
量程： 0～150μm； 精 度： ±3%； 分辨率：0.1μm；
功耗： 0.06W； 外形尺寸： 150mm×80mm×30mm； 重 量： 280g。
儀器特點(diǎn)
* 膜厚校正片
膜厚校正片是儀器的計(jì)量基準(zhǔn)。本儀器的膜厚校正片全部經(jīng)過技術(shù)監(jiān)督部門的檢測(cè)，附有檢測(cè)報(bào)告。這一點(diǎn)在國(guó)內(nèi)外儀器中都是不多見的。它保證了儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性。
* 探頭
測(cè)厚儀zui容易損壞的部件是探頭，本儀器對(duì)探頭做了特殊的耐久性設(shè)計(jì)，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。
* 探頭線
由于儀器使用頻率很高，探頭線成為易損件。一般國(guó)產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會(huì)出現(xiàn)故障，多數(shù)問題出在探頭線上。
天星測(cè)厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線zui初用于機(jī)器人，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬次的曲折。實(shí)踐證明，這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1臺(tái)
膜厚校正片 1套 （4片）
校正基體 1塊
儀器箱 1個(gè)
可選附件
膜厚校正片 （12μm25μm50μm100μm附檢測(cè)報(bào)告）
校正基體 6063鋁合金
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